Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем

11.03.04 - Электроника и наноэлектроника (Микроэлектроника и твердотельная электроника)

Очная форма обучения, план набора 2021 г.

Изучается: 7 семестр

Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)

Индекс дисциплины: Б1.В.02.14

Обеспечивающая кафедра: Кафедра физической электроники

Основная литература

Методы исследования материалов и структур электроники : учебное пособие / С. В. Смирнов ; Федеральное агентство по образованию, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск : ТУСУР, 2007. - 170[1] с.
Доступно в библиотеке: 91 экземпляр

Учебно-методическое пособие

Методы исследования материалов и структур электроники : лабораторный практикум для студентов специальности 210104 "Микроэлектроника и твердотельная электроника" / С. В. Смирнов ; Федеральное агентство по образованию, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Кафедра физической электроники. - Томск : ТУСУР, 2007. - 58 с.
Доступно в библиотеке: 48 экземпляров


Контрольные испытания

Вид контроля Семестры
Экзамен 7

Объем дисциплины и виды учебной деятельности

Вид учебной деятельности 1 семестр 2 семестр 3 семестр 4 семестр 5 семестр 6 семестр 7 семестр 8 семестр Всего Единицы
Лекционные занятия3636часов
↳ из них практическая подготовка1818часов
Практические занятия1818часов
Лабораторные занятия1616часов
↳ из них практическая подготовка1616часов
Самостоятельная работа3838часов
↳ из них практическая подготовка0часов
Подготовка и сдача экзамена/зачета3636часов
Общая трудоемкость144144часов
44З.Е

Компетенции

Код Содержание
ОПК-2 Способен самостоятельно проводить экспериментальные исследования и использовать основные приемы обработки и представления полученных данных
ПКР-6 Способен аргументировано выбирать и реализовывать на практике эффективную методику экспериментального исследования параметров и характеристик приборов, схем, устройств и установок электроники и наноэлектроники различного функционального назначения
ПКР-8 Способен организовывать метрологическое обеспечение производства материалов и изделий электронной техники