Top.Mail.Ru
Научно-образовательный портал ТУСУР | Микроэлектроника и твердотельная электроника | Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем
Сайты ТУСУРа
Научно-образовательный портал ТУСУР
☰

Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем

11.03.04 - Электроника и наноэлектроника (Микроэлектроника и твердотельная электроника)

Очная форма обучения, план набора 2021 г.

Изучается: 7 семестр

Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)

Индекс дисциплины: Б1.В.02.14

Обеспечивающая кафедра: Кафедра физической электроники

Рабочая программа

Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем: Рабочая программа учебной дисциплины «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем»/ Чистоедова И. А., Смирнов С. В. ‐ 2022

Основная литература

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем: Учебное пособие / Смирнов С. В. — 2010. 115 с.

Методы исследования материалов и структур электроники : учебное пособие / С. В. Смирнов ; Федеральное агентство по образованию, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск : ТУСУР, 2007. - 170[1] с.
Доступно в библиотеке: 91 экземпляр

Дополнительная литература

Оборудование для создания и исследования свойств объектов наноэлектроники: Учебное пособие / Чистоедова И. А., Данилина Т. И. — 2011. 98 с.

Газенаур, Е. Г. Методы исследования материалов : учебное пособие / Е. Г. Газенаур, Л. В. Кузьмина, В. И. Крашенинин. — Кемерово : КемГУ, 2013. — 336 с. — ISBN 978-5-8353-1578-9. — Текст : электронный // Лань : электронно-библиотечная система. — URL: https://e.lanbook.com/book/44317 (дата обращения: 15.04.2022). — Режим доступа: для авториз. пользователей.

Учебно-методическое пособие

Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем: Учебно-методическое пособие по практическим занятиям и самостоятельной работе / Чистоедова И. А., Смирнов С. В. — 2018. 53 с.

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем: Лабораторный практикум / Смирнов С. В. — 2010. 97 с.

Методы исследования материалов и структур электроники : лабораторный практикум для студентов специальности 210104 "Микроэлектроника и твердотельная электроника" / С. В. Смирнов ; Федеральное агентство по образованию, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Кафедра физической электроники. - Томск : ТУСУР, 2007. - 58 с.
Доступно в библиотеке: 48 экземпляров


Контрольные испытания

Вид контроля Семестры
Экзамен 7

Объем дисциплины и виды учебной деятельности

Вид учебной деятельности 1 семестр 2 семестр 3 семестр 4 семестр 5 семестр 6 семестр 7 семестр 8 семестр Всего Единицы
Лекционные занятия3636часов
↳ из них практическая подготовка1818часов
Практические занятия1818часов
Лабораторные занятия1616часов
↳ из них практическая подготовка1616часов
Самостоятельная работа3838часов
↳ из них практическая подготовка0часов
Подготовка и сдача экзамена/зачета3636часов
Общая трудоемкость144144часов
44З.Е

Компетенции

Код Содержание
ОПК-2 Способен самостоятельно проводить экспериментальные исследования и использовать основные приемы обработки и представления полученных данных
ПКР-6 Способен аргументировано выбирать и реализовывать на практике эффективную методику экспериментального исследования параметров и характеристик приборов, схем, устройств и установок электроники и наноэлектроники различного функционального назначения
ПКР-8 Способен организовывать метрологическое обеспечение производства материалов и изделий электронной техники
  • Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
  • Address 634050, г. Томск, пр. Ленина, 40
  • Phone (3822) 51-05-30
  • Printer (3822) 51-32-62, 52-63-65
  • Email office@tusur.ru
  • Time Пн. – пт., 8:30 – 17:30, обед, 13:00 – 14:00