Сайты ТУСУРа

Физические основы микро- и наноэлектроники

11.03.03 - Конструирование и технология электронных средств (Технология электронных средств) План в архиве

Очная форма обучения, план набора 2020 г.

Изучается: 3 семестр

Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)

Индекс дисциплины: Б1.О.03.02

Обеспечивающая кафедра: Кафедра конструирования узлов и деталей радиоэлектронной аппаратуры

Основная литература

Гуртов В.А. Твердотельная электроника: учебное пособие для вузов. – 2-е изд., доп. – М.: Техносфера, 2005. – 406 с.
Доступно в библиотеке: 88 экземпляров

Ефимов И. Е., Козырь И. Я., Горбунов Ю. И. ''Микроэлектроника. Физические и технологические основы, надежность'': Учебное пособие для вузов – М. ВШ, 1986. - 464 с.
Доступно в библиотеке: 54 экземляра

Физические основы микроэлектроники: Учебное пособие / Н. С. Несмелов, М. М. Славникова, А. А. Широков. - Томск : ТУСУР, 2007. -276 с.
Доступно в библиотеке: 170 экземпляров

Дополнительная литература

Драгунов ВП., Неизвестный И.Г., Гридчин В.А. Основы наноэлектроники:учебное пособие для вузов – М.: Физматкнига, 2006. – 494 с.
Доступно в библиотеке: 20 экземпляров

Боргардт Н.И., Гаврилов С.А.,Герасименко Н.Н. и др. Нанотехнологии в электронике. – М.: Техносфера, 2005. -446 с.
Доступно в библиотеке: 20 экземпляров

Учебно-методическое пособие


Контрольные испытания

Вид контроля Семестры
Зачет с оценкой 3

Объем дисциплины и виды учебной деятельности

Вид учебной деятельности 1 семестр 2 семестр 3 семестр 4 семестр 5 семестр 6 семестр 7 семестр 8 семестр Всего Единицы
Лекционные занятия3636часов
Практические занятия1818часов
Лабораторные занятия2828часов
Самостоятельная работа9898часов
↳ из них практическая подготовка0часов
Общая трудоемкость180180часов
55З.Е

Компетенции

Код Содержание
ОПК-2 Способен самостоятельно проводить экспериментальные исследования и использовать основные приемы обработки и представления полученных данных
ПКР-2 Способен аргументировано выбирать и реализовывать на практике эффективную методику экспериментального исследования параметров и характеристик конструкций и технологических процессов электронных средств различного функционального назначения