Методы математической физики

28.03.01 - Нанотехнологии и микросистемная техника (Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике) План в архиве

Очная форма обучения, план набора 2016 г.

Изучается: 5 семестр

Цикл дисциплины: ФТД. Факультативы

Индекс дисциплины: ФТД.2

Обеспечивающая кафедра: Кафедра электронных приборов

Основная литература

Конспект лекций по высшей математике : в 2 ч. / Д. Т. Письменный. - М. : Айрис-Пресс, 2007 - . - ISBN 978-5-8112-1687-1. Ч. 2 : Тридцать пять лекций. - 5-е изд. - М. : Айрис-Пресс, 2007. - 251, [5] с. : ил., табл. - ISBN 978-5-8112-2315-2
Доступно в библиотеке: 60 экземпляров

Дополнительная литература

Математические методы физики. Избранные вопросы : Учебник для вузов / Е. А. Краснопевцев. - Новосибирск : НГТУ, 2003. - 242 с
Доступно в библиотеке: 50 экземпляров

Учебно-методическое пособие

Методы математической физики : Руководство к организации самостоятельной работы для студентов специальности 210106 "Промышленная электроника" / Ю. В. Гриняев, Л. Л. Миньков ; Федеральное агентство по образованию, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Кафедра промышленной электроники. - Томск : ТУСУР, 2007. - 116 с. :
Доступно в библиотеке: 94 экземляра

Контрольные испытания

Вид контроля Семестры
Зачёт 5

Объем дисциплины и виды учебной деятельности

Вид учебной деятельности 1 семестр 2 семестр 3 семестр 4 семестр 5 семестр 6 семестр 7 семестр 8 семестр Всего Единицы
Лекция1010часов
Практическая работа88часов
Всего аудиторных занятий1818часов
Самостоятельная работа1818часов
Общая трудоемкость3636часов
11З.Е

Компетенции

Код Содержание
ПК-1 способностью проводить физико-математическое моделирование исследуемых процессов нанотехнологии и объектов нано- и микросистемной техники с использованием современных компьютерных технологий
ПСК-1 способностью владеть современными методами расчета и проектирования изделий микро- и наноэлектроники и микросистемной техники, изготовленных с применением нанотехнологий, способностью к восприятию, разработке и критической оценке новых способов их проектирования