Элементы электронной техники. Часть 1. Основы кристаллографии и кристаллофизики

Учебное пособие для студентов, обучающихся по очной форме направления подготовки 210100.62

В первой части учебного пособия изложены основы анализа структуры и физических свойств кристаллов с позиций теории симметрии, принятых в современной кристаллографии и кристаллофизике. В нем также описан математический аппарат, используемый для описания физических явлений в кристаллах, который базируется на тензорном исчислении и аналитической геометрии. Изложение материала иллюстрируется физическими примерами и агналогиями. Выбранная форма изложения материала пособия направлена на формирование у студентов целостного методологического подхода к описанию физических явлений в кристаллах, позволяющего выявлять сущность явления, предсказывать новые физические явления, перспективные к применению в электронном приборостроении, предсказывать его основные свойства. исчисления. Изложение материала пособия ориентировано на студентов технических вузов и не требует специальных знаний кроме основ высшей математики и физики, даваемых на первых курсах вузов. На основании экспертизы УМК по специальности 210100.62 «Электронные приборы и устройства» комиссия Учебно-методического объединения по образованию в области автоматики, электроники, микроэлектроники и радиотехники присвоила данному учебному пособию гриф «Рекомендуется для межвузовского использования».

Кафедра электронных приборов

Библиографическая запись:

Давыдов, В. Н. Элементы электронной техники. Часть 1. Основы кристаллографии и кристаллофизики: Учебное пособие для студентов, обучающихся по очной форме направления подготовки 210100.62 [Электронный ресурс] / В. Н. Давыдов. — Томск: ТУСУР, 2013. — 126 с. — Режим доступа: https://edu.tusur.ru/publications/3570
Автор:   Давыдов В. Н.
Год издания: 2013
Количество страниц: 126
Скачиваний: 17

Оглавление (содержание)

1. Введение

2. Основные сведения о материалах электронной техники

2.1. Классификация материалов по свойствам

2.2. Виды химической связи...

2.3. Классификация материалов по строению

Часть 1 "Основы кристаллографии и кристаллофизики"

3.1. Структура кристалла и его решётка

3.2. Кристаллографическая система координат

3.3. Взаимный векторный базис и обратная решётка

3.4. Символы узлов, направлений и плоскостей в кристаллах. Индексы Миллера

3.4.1. Символ и индексы Миллера кристаллографического направления

3.4.2. Символ и индексы Миллера кристаллографической плоскости

3.5. Теория симметрии кристаллов

3.5.1. Элементы точечной симметрии кристаллов

3.5.2. Свойства элементов точечной симметрии

3.5.3. Матричное представление элементов симметрии

3.6. Стереографическая проекция кристаллов

3.7. Кристаллографические категории, системы и сингонии

3.8. Точечные группы симметрии кристаллов. Символики точечных групп

3.9. Составление и расшифровка стереографической проекции кристалла

3.10. Вывод групп точечной симметрии кристаллов

3.11. Пространственная симметрия структуры кристаллов

3.12. Решётки Бравэ. Пространственная группа симметрии кристалла

4. Элементы математического аппарата

4.1. Кристаллофизическая система координат

4.2. Предельные группы симметрии (группы Кюри). Принципы кристаллофизики

4.3. Тензоры первого ранга

4.3.1. Полярные векторы

4.3.2 Аксиальные векторы

4.4. Тензоры второго ранга

4.4.1. Основные положения теории

4.4.2. Введение тензоров второго ранга в задачах кристаллофизики

4.4.3. Собственные векторы и собственные значения симметричного тензора второго ранга

4.4.4. Нормальные и тангенциальные составляющие тензора второго ранга


Похожие пособия