Материалы и элементы электронной техники. Часть 1. Основы кристаллографии и кристаллофизики

1. Введение

2. Основные сведения о материалах электронной техники

2.1. Классификация материалов по свойствам

2.2. Виды химической связи

2.3. Классификация материалов по строению

1. Введение

2. Основные сведения о материалах электронной техники

3.1. Структура кристалла и его решѐтка

3.2. Кристаллографическая система координат

3.3. Взаимный векторный базис и обратная решѐтка

3.4. Символы узлов, направлений и плоскостей в кристаллах. Индексы Миллера

3.4.1. Символ и индексы Миллера кристаллографического направления

3.4.2. Символ и индексы Миллера кристаллографической плоскости

3.5. Теория симметрии кристаллов

3.5.1. Элементы точечной симметрии кристаллов

3.5.2. Свойства элементов точечной симметрии

3.5.3. Матричное представление элементов симметрии

3.6. Стереографическая проекция кристаллов

3.7. Кристаллографические категории, системы и сингонии

3.8. Точечные группы симметрии кристаллов. Символики точечных групп

3.9. Составление и расшифровка стереографической проекции кристалла

3.10. Вывод групп точечной симметрии кристаллов

3.11. Пространственная симметрия структуры кристаллов

3.12. Решѐтки Бравэ. Пространственная группа симметрии кристалла

4. Элементы математического аппарата

4.1. Кристаллофизическая система координат

4.2. Предельные группы симметрии (группы Кюри). Принципы кристаллофизики

4.3. Тензоры первого ранга

4.3.1. Полярные векторы

4.3.2 Аксиальные векторы

4.4. Тензоры второго ранга

4.4.1. Основные положения теории

4.4.2. Введение тензоров второго ранга в задачах кристаллофизики

4.4.3. Собственные векторы и собственные значения симметричного тензора второго ранга

4.4.4. Нормальные и тангенциальные составляющие тензора второго ранга

4.4.5. Указательная и характеристическая поверхности тензора второго ранга

4.5. Тензоры высших рангов

4.5.1. Введение тензоров высших рангов в задачах кристаллофизики

4.5.2. Внутренняя симметрия тензоров высших рангов. Соотношения дуальности

4.5.3. Внешняя симметрия тензоров высших рангов

4.5.4. Метод прямой проверки в декартовых координатах

4.5.5. Метод прямой проверки в циклических координатах. Теорема Германа

5. Литература

6. Приложения

Таблица 1. Стандартные установки кристаллографической системы координат

Таблица 2. Стереографические проекции кристаллов различной точечной симметрии

Таблица 3. Распределение решеток Бравэ по системам