12.03.03 - Фотоника и оптоинформатика (Фотоника нелинейных, волноводных и периодических структур) План в архиве
Очная форма обучения, план набора 2018 г.
Изучается: 6 семестр
Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)
Индекс дисциплины: Б1.В.ДВ.11.2
Обеспечивающая кафедра: Кафедра электронных приборов
Рабочая программа
Основная литература
Численные методы : учебное пособие для вузов / Н. С. Бахвалов, Н. П. Жидков, Г. М. Кобельков ; Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова (М.). - 7-е изд. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011. - 637 с. - (Классический университетский учебник). - Библиогр.: с. 624-628. - Предм. указ.: с. 629-632. - ISBN 978-5-9963-0449-3
Доступно в библиотеке:
41
экземпляр
Дополнительная литература
Численные методы на базе Mathcad [Текст] : учебное пособие для вузов / С. В. Поршнев, И. В. Беленкова. - СПб. : БХВ-Петербург, 2012. - 456 с. : ил. - Библиогр.: с. 447-448 . - Предм. указ.: с. 449. - ISBN 978-5-94157-610-4
Доступно в библиотеке:
20
экземпляров
Моделирование компонентов и элементов интегральных схем / Петров М.Н., Гудков Г.В. – М.: Изд-во «Лань», 2011. – 464 с. ISBN 978-5-8114-1075-0
Доступно в библиотеке:
30
экземпляров
Учебно-методическое пособие
Контрольные испытания
Вид контроля | Семестры |
---|---|
Зачёт с оценкой | 6 |
Объем дисциплины и виды учебной деятельности
Вид учебной деятельности | 1 семестр | 2 семестр | 3 семестр | 4 семестр | 5 семестр | 6 семестр | 7 семестр | 8 семестр | Всего | Единицы |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Лекция | 20 | 20 | часов | |||||||
Практическая работа | 18 | 18 | часов | |||||||
Лабораторная работа | 16 | 16 | часов | |||||||
Всего аудиторных занятий | 54 | 54 | часов | |||||||
Самостоятельная работа | 54 | 54 | часов | |||||||
Общая трудоемкость | 108 | 108 | часов | |||||||
3 | 3 | З.Е |
Компетенции
Код | Содержание |
---|---|
ПК-3 | способностью к проведению измерений и исследования различных объектов по заданной методике |
ПК-6 | способностью к оценке технологичности и технологическому контролю простых и средней сложности конструкторских решений, разработке типовых процессов контроля параметров механических, оптических и оптико-электронных деталей и узлов |