Испытание и контроль изделий электронной техники

11.04.04 - Электроника и наноэлектроника (Твердотельная электроника)

Очная форма обучения, план набора 2015 г.

Изучается: 3 семестр

Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)

Индекс дисциплины: Б1.В.ДВ.4.2

Обеспечивающая кафедра: Кафедра физической электроники

Основная литература

Смирнов С.В. Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем: учебное пособие. – Томск: ТУСУР, 2010. – 115 с.
Доступно в библиотеке: 6 экземпляров
Смирнов С.В. Методы исследования надежности наногетероструктурных монолитных интегральных схем: учебное пособие. – Томск: ТУСУР, 2010. – 95 с.
Доступно в библиотеке: 8 экземпляров

Учебно-методическое пособие

Смирнов С.В. Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем: лабораторный практикум. – Томск: ТУСУР, 2010. – 97 с.
Доступно в библиотеке: 12 экземпляров

Контрольные испытания

Вид контроля Семестры
Зачет 3

Объем дисциплины и виды учебной деятельности

Вид учебной деятельности 1 семестр 2 семестр 3 семестр 4 семестр Всего Единицы
Лекция1616часов
Практическая работа88часов
Всего аудиторных занятий2424часов
Из них в интерактивной форме1414часов
Самостоятельная работа4848часов
Общая трудоемкость7272часов
22З.Е

Компетенции

Код Содержание
ПК-3 готовностью осваивать принципы планирования и методы автоматизации эксперимента на основе информационно-измерительных комплексов как средства повышения точности и снижения затрат на его проведение, овладевать навыками измерений в реальном времени
ПК-4 способностью к организации и проведению экспериментальных исследований с применением современных средств и методов
ПК-5 способностью делать научно-обоснованные выводы по результатам теоретических и экспериментальных исследований, давать рекомендации по совершенствованию устройств и систем, готовить научные публикации и заявки на изобретения