Сайты ТУСУРа
Нажимая кнопку «СОГЛАСЕН», Вы подтверждаете то, что  Вы проинформированы об использовании cookies на нашем сайте. Отключить cookies Вы можете в  настройках своего браузера. Подробнее
Для того, чтобы мы могли качественно предоставить Вам услуги, мы используем cookies, которые сохраняются на Вашем компьютере (Сведения о местоположении; ip-адрес; тип, язык, версия ОС и браузера; тип устройства и разрешение его экрана; источник, откуда пришел на сайт пользователь; какие страницы открывает и на какие кнопки нажимает пользователь; эта же информация используется для обработки статистических данных использования сайта посредством интернет-сервиса Яндекс.Метрика)

Метрология и технические измерения, 2016

Рабочая программа учебной дисциплины

Направление подготовки: 28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника

Профиль: Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике, очная форма обучения, ФЭ

Учебный план набора 2015 года

Кафедра компьютерных систем в управлении и проектировании


 

Автор:   Отчалко В. Ф.
Год издания: 2016

Основная литература

Отчалко В.Ф. Метрология, стандартизация и сертификация: Учеб. пособие. – Томск: Томский межвузовский центр дистанционного образования, 2010. – 208с.
Доступно в библиотеке: 48 экземпляров

Технические измерения и приборы: учебник для студ. учреждений высш. проф. образования / В.Ю.Шишмарев. – М.: Академия, 2010. – 384с.
Доступно в библиотеке: 11 экземпляров

Метрология и радиоизмерения: Учебник для вузов/ В.И. Нефедов, В.И. Хахин, В.К. Битюков и др.; Ред. В.И. Нефёдов. – М.: Высшая школа, 2006. – 525 с.: ил.
Доступно в библиотеке: 48 экземпляров

Дополнительная литература

Котюк А.Ф. Датчики в современных измерениях. – М.: Радио и связь, Горячая линия – Телеком, 2006. – 96 с.: ил.
Доступно в библиотеке: 49 экземпляров

Эрастов В.Е., Сидоров Ю.К., Отчалко В.Ф. Измерительная техника и датчики: Учебное пособие. – Томск: ТМЦДО, 1999 – 178 с.
Доступно в библиотеке: 63 экземляра

Сергеев А.Г., Крохин В.В. Метрология: Учеб. пособие для вузов. – М.: Логос, 2000. – 408 с.
Доступно в библиотеке: 3 экземляра

Дж. Фрайден. Современные датчики: Справочник. – Москва: Техносфера, 2006. – 592 с.
Доступно в библиотеке: 50 экземпляров

Эрастов В.Е. Метрология, стандартизация и сертификация: Учеб. пособие. – Томск: Изд-во Томск. гос. ун-та систем упр. и радиоэлектроники, 2005. – 266 с.
Доступно в библиотеке: 341 экземпляр

Метрология, стандартизация и сертификация: Учебник для вузов/ Я.М.Радкевич, А.Г.Схиртладзе, Б.И.Лактионов. – 2-е изд., доп. – М.: Высшая школа, 2006. – 799с.:ил.
Доступно в библиотеке: 30 экземпляров

Учебно-методическое пособие

Отчалко В.Ф. Метрология, стандартизация и сертификация: Учебное методическое пособие. – Томск: ТМЦДО, 2010.-52c.
Доступно в библиотеке: 12 экземпляров


Дисциплины

+

Метрология и технические измерения

Направление подготовки (специальность): 28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника

Профиль: Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике

Индекс дисциплины: Б1.Б.19

Форма обучения: очная

Факультет: ФВС

Кафедра: КСУП

Курс:

Семестр:

Учебный план набора 2015 года

+

Метрология и технические измерения

Направление подготовки (специальность): 28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника

Профиль: Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике

Индекс дисциплины: Б1.Б.19

Форма обучения: очная

Факультет: ФВС

Кафедра: КСУП

Курс: 3

Семестр: 5

Учебный план набора 2014 года

План в архиве