Рабочая программа учебной дисциплины
Направление подготовки: 28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника
Профиль: Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике, очная форма обучения, ФЭ
Учебный план набора 2015 года
Кафедра компьютерных систем в управлении и проектировании
Показать еще 1 направление
Направление подготовки: 28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника
Профиль: Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике, очная форма обучения, ФЭ
Учебный план набора 2014 года (План в архиве)
Кафедра компьютерных систем в управлении и проектировании
Основная литература
Отчалко В.Ф. Метрология, стандартизация и сертификация: Учеб. пособие. – Томск: Томский межвузовский центр дистанционного образования, 2010. – 208с.
Доступно в библиотеке:
48
экземпляров
Технические измерения и приборы: учебник для студ. учреждений высш. проф. образования / В.Ю.Шишмарев. – М.: Академия, 2010. – 384с.
Доступно в библиотеке:
11
экземпляров
Метрология и радиоизмерения: Учебник для вузов/ В.И. Нефедов, В.И. Хахин, В.К. Битюков и др.; Ред. В.И. Нефёдов. – М.: Высшая школа, 2006. – 525 с.: ил.
Доступно в библиотеке:
48
экземпляров
Дополнительная литература
Котюк А.Ф. Датчики в современных измерениях. – М.: Радио и связь, Горячая линия – Телеком, 2006. – 96 с.: ил.
Доступно в библиотеке:
49
экземпляров
Эрастов В.Е., Сидоров Ю.К., Отчалко В.Ф. Измерительная техника и датчики: Учебное пособие. – Томск: ТМЦДО, 1999 – 178 с.
Доступно в библиотеке:
63
экземляра
Сергеев А.Г., Крохин В.В. Метрология: Учеб. пособие для вузов. – М.: Логос, 2000. – 408 с.
Доступно в библиотеке:
3
экземляра
Дж. Фрайден. Современные датчики: Справочник. – Москва: Техносфера, 2006. – 592 с.
Доступно в библиотеке:
50
экземпляров
Эрастов В.Е. Метрология, стандартизация и сертификация: Учеб. пособие. – Томск: Изд-во Томск. гос. ун-та систем упр. и радиоэлектроники, 2005. – 266 с.
Доступно в библиотеке:
341
экземпляр
Метрология, стандартизация и сертификация: Учебник для вузов/ Я.М.Радкевич, А.Г.Схиртладзе, Б.И.Лактионов. – 2-е изд., доп. – М.: Высшая школа, 2006. – 799с.:ил.
Доступно в библиотеке:
30
экземпляров
Учебно-методическое пособие
Отчалко В.Ф. Метрология, стандартизация и сертификация: Учебное методическое пособие. – Томск: ТМЦДО, 2010.-52c.
Доступно в библиотеке:
12
экземпляров
Дисциплины
Метрология и технические измерения
Направление подготовки (специальность): 28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника
Профиль: Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике
Индекс дисциплины: Б1.Б.19
Форма обучения: очная
Факультет: ФВС
Кафедра: КСУП
Курс:
Семестр:
Учебный план набора 2015 года
Метрология и технические измерения
Направление подготовки (специальность): 28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника
Профиль: Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике
Индекс дисциплины: Б1.Б.19
Форма обучения: очная
Факультет: ФВС
Кафедра: КСУП
Курс: 3
Семестр: 5
Учебный план набора 2014 года
План в архиве