Рабочая программа учебной дисциплины
Направление подготовки: 28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника
Профиль: Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике, очная форма обучения, ФЭ
Учебный план набора 2019 года (План в архиве)
Кафедра компьютерных систем в управлении и проектировании
Основная литература
Метрология и радиоизмерения : Учебник для вузов / В. И. Нефедов [и др.] ; ред. : В. И. Нефедов. - 2-е изд., перераб. - М. : Высшая школа, 2006. - 525 с.:
Доступно в библиотеке:
48
экземпляров
Метрология и радиоизмерения : Учебное пособие для вузов / Б. В. Дворяшин. - М. : Academia, 2005. - 296[8] c. : ил., табл. - (Высшее профессиональное образование. Радиоэлектроника). - Библиогр.: с. 294.
Доступно в библиотеке:
30
экземпляров
Дополнительная литература
Левшина Е.С., Новицкий П.В. Электрические измерения физических величин (измерительные преобразователи) – Л.: Электроатомиздат, 1983.-320 с.
Доступно в библиотеке:
15
экземпляров
Измерение электрических и неэлектрических величин/ Под ред. Н.Н.Евтихиева. – М.: Энергоатомиздат, 1990. -349 с.
Доступно в библиотеке:
32
экземляра
Метрология, стандартизация, сертификация и электроизмерительная техника: Учебное пособие/ К.К. Ким, Г.Н. Анисимов, В.Ю. Барбарович, Б.Я. Литвинов. – СПБ.: Питер, 2006. – 368 с.: ил.
Доступно в библиотеке:
50
экземпляров
Учебно-методическое пособие
Отчалко В.Ф. Метрология, стандартизация и сертификация: Учеб. пособие. – Томск: Томский межвузовский центр дистанционного образования, 2010. – 208с.
Доступно в библиотеке:
62
экземляра
Эрастов В.Е., Сидоров Ю.К., Отчалко В.Ф. Измерительная техника и датчики: Учебное пособие. – Томск: ТМЦДО, 1999-178 с.
Доступно в библиотеке:
58
экземпляров
Дисциплины
Метрология и технические измерения
Направление подготовки (специальность): 28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника
Профиль: Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике
Индекс дисциплины: Б1.О.18
Форма обучения: очная
Факультет: ФВС
Кафедра: КСУП
Курс: 3
Семестр: 5
Учебный план набора 2019 года
План в архиве