Рабочая программа учебной дисциплины
Направление подготовки: 28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника
Профиль: Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике, очная форма обучения, ФЭ
Учебный план набора 2017 года (План в архиве)
Кафедра компьютерных систем в управлении и проектировании
Основная литература
Отчалко В.Ф. Метрология, стандартизация и сертификация: Учеб. пособие. – Томск: Томский межвузовский центр дистанционного образования, 2010. – 208с.
Доступно в библиотеке:
62
экземляра
Метрология и радиоизмерения: Учебник для вузов/ В.И. Нефедов, В.И. Хахин, В.К. Битюков и др.; Ред. В.И. Нефёдов. – М.: Высшая школа, 2006. – 525 с.: ил.
Доступно в библиотеке:
48
экземпляров
Дополнительная литература
Отчалко В.Ф. Метрология, стандартизация и сертификация: Учебное методическое пособие. – Томск: ТМЦДО, 2010.-52c.
Доступно в библиотеке:
16
экземпляров
Эрастов В.Е. Метрология, стандартизация и сертификация: Учеб. пособие. – Томск: Изд-во Томск. гос. ун-та систем упр. и радиоэлектроники, 2005. – 266 с.
Доступно в библиотеке:
340
экземпляров
В.Ф.Отчалко, Ю.В.Сваровский, В.Е.Эрастов. Метрология и технические измерения: Учеб. Пособие. – Томск: Изд-во Томск. гос. ун-та систем упр. и радиоэлектроники, 2007.
Доступно в библиотеке:
15
экземпляров
Дж. Фрайден. Современные датчики: Справочник. – Москва: Техносфера, 2006. – 592 с.
Доступно в библиотеке:
50
экземпляров
Технические измерения и приборы: учебник для студ. учреждений высш. проф. образования / В.Ю.Шишмарев. – М.: Академия, 2010. – 384с. : Библиотека ТУСУР,
Доступно в библиотеке:
11
экземпляров
Учебно-методическое пособие
Дисциплины
Метрология и технические измерения
Направление подготовки (специальность): 28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника
Профиль: Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике
Индекс дисциплины: Б1.Б.16
Форма обучения: очная
Факультет: ФВС
Кафедра: КСУП
Курс: 3
Семестр: 5
Учебный план набора 2017 года
План в архиве