Выпускная квалификационная работа Свищевой Эльвиры Евгеньевны

Название: Комплексный метод для неразрушающего контроля электрофизических параметров полупроводниковых материалов

Тип: Бакалаврская работа

Год защиты: 2020

Руководитель: Башкиров А.И.

Факультет: Факультет электронной техники (ФЭТ)

Образовательная программа: 11.03.04 Электроника и наноэлектроника, Квантовая и оптическая электроника