Результаты научной деятельности
Review of the application of virtual metrology approach in semiconductor manufacturing
Статья в сборнике трудов конференции
XIV Международная научно-практическая конференция "Электронные средства и системы управления"
2018
Опубликовано
почти 5 лет назад
A Study on the Effect of Ion Implantation Process Variations on the Small-Signal MESFET Model Parameters
Статья в сборнике трудов конференции
2019 International Multi-Conference on Engineering, Computer and Information Sciences (SIBIRCON)
2019
Опубликовано
почти 4 года назад