Исследование дифракции света на многослойных ФПМ-ЖК дифракционных структурах в условиях внешнего электрического воздействия

Статья в сборнике трудов конференции

Представлена теоретическая модель дифракции света на многослойных ФПМ-ЖК дифракционных структурах. Также приведен численный расчет дифракционных характеристик четырехслойных ФПМ-ЖК дифракционных структур при влиянии внешнего электрического воздействия. Показана возможность управления видом селективного отклика при воздействии внешнего электрического поля на каждый слой структуры.

Библиографическая запись: Исследование дифракции света на многослойных ФПМ-ЖК дифракционных структурах в условиях внешнего электрического воздействия [Электронный ресурс] / Д.С. Растрыгин [и др.] // Электронные средства и системы управления : материалы докладов XVII Международной научно-практической конференции (Томск, 17-19 ноября 2021 г.) : в 2 ч. – Томск : В-Спектр, 2021. – Ч. 1. – С. 166-170.

Ключевые слова:

МГНДС ГОЛОГРАФИЯ ФПМ-ЖК УГЛОВАЯ СЕЛЕКТИВНОСТЬ ДИФРАКЦИОННАЯ ЭФФЕКТИВНОСТЬ

Конференция:

Электронные средства и системы управления
Россия, Томская область, Томск, 17-19 ноября 2021,
Международная

Издательство:

В-Спектр

Россия, Томская область, Томск

Авторы: Растрыгин Д. С., Иванченко В. Г., Долгирев В. О., Шарангович С. Н.

Год издания: 2021

Страницы: 166 - 170

Язык: Русский

Индексируется в РИНЦ