Методические указания к лабораторному занятию по дисциплине «Методы диагностики полупроводниковых структур»
Кафедра конструирования узлов и деталей радиоэлектронной аппаратуры
Библиографическая запись:
Оглавление (содержание)
1 ВВЕДЕНИЕ...................................................................................................................... 4
2 ВОЛЬТАМПЕРНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ГЕТЕРОПЕРЕХОДОВ....................................... 5
2.1 Инжекционный ток...................................................................................................... 6
2.2 Рекомбинационный ток............................................................................................... 6
2.3 Туннельно-рекомбинационный ток.............................................................................. 7
3 ОПИСАНИЕ КОНСТРУКЦИИ И ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ОБРАЗЦОВ СИД... 9
4 КРАТКОЕ ОПИСАНИЕ ПРИБОРА KEYSIGHT В2912А........................................................ 11
4.1 Техническое описание................................................................................................. 11
4.2 Основные характеристики........................................................................................... 11
4.3 Подготовка прибора к использованию........................................................................ 12
4.4 Описание и назначение ручек управления на лицевой стороне прибора................... 12
5 ИЗМЕРЕНИЕ ВАХ СИД................................................................................................ 15
5.1 Сохранение данных..................................................................................................... 15
5.2 Преобразование записанного файла........................................................................... 16
6 ПОРЯДОК ВЫПОЛНЕНИЯ ЛАБОРАТОРНОЙ РАБОТЫ....................................................... 17
7 КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ.............................................................................................. 17
СПИСОК РЕКОМЕНДУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ........................................................................ 18
Методы диагностики полупроводниковых структур
11.04.04 Электроника и наноэлектроника (Приборы и методы контроля) Очная форма обучения, план набора 2022 г. План в архиве