Для доступа необходимо войти в систему
Методические указания к самостоятельной работе и курсовому проектированию для студентов академической магистратуры «Проектирование и технология наноэлектронных средств»
Дисциплина «Методы диагностики в планарных технологиях» является дисциплиной по выбору вариативной части Блока 1 (Б1.В.ДВ.2) основной образовательной программы и учебного плана магистратуры «Проектирование и технология микро- и наноэлектронных средств» направления подготовки 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника».
Кафедра конструирования узлов и деталей радиоэлектронной аппаратуры
Библиографическая запись:
Еханин, С. Г. Методы диагностики в планарных технологиях: Методические указания к самостоятельной работе и курсовому проектированию для студентов академической магистратуры «Проектирование и технология наноэлектронных средств» [Электронный ресурс] / С. Г. Еханин. — Томск: ТУСУР, 2016. — 21 с. — Режим доступа: https://edu.tusur.ru/publications/5937
Оглавление (содержание)
Введение
1 Обоснование тем самостоятельной работы и курсового проектирования
2 Предлагаемые темы курсового проектирования
3 Методические указания к курсовому проектированию (курсовой работе)
Литература