Исследование амплитудной характеристики адаптивного голографического интерферометра в широком динамическом диапазоне

Исследование амплитудной характеристики адаптивного голографического интерферометра в широком динамическом диапазоне: методические указания к лабораторной работе по курсам «Оптические методы обработки информации» и «Акустооптические методы обработки информации» для студентов направлений «Электроника и наноэлектроника» и «Фотоника и оптоинформатика» / С.М. Шандаров, С.С. Шмаков; Министерство образования и науки Российской Федерации, Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Кафедра электронных приборов. - Томск : ТУСУР, 2014. - 16 с. Целью настоящей работы является изучение зависимости выходного отклика адаптивного интерферометра, использующего динамические отражательные голограммы в кубических фоторефрактивных кристаллах силленитов, от амплитуды механических колебаний зеркально отражающего объекта, в диапазоне от единиц пикометров до 150 нанометров. В ходе выполнения работы у студентов направления 210100 формируются: - способность использовать основные законы естественнонаучных дисциплин в профессиональной деятельности, применять методы математического анализа и моделирования, теоретического и экспериментального исследования (ОК-10); - готовность учитывать современные тенденции развития электроники, измерительной и вычислительной техники, информационных технологий в своей профессиональной деятельности (ПК-3); - способность владеть основными приемами обработки и представления экспериментальных данных (ПК-5). В ходе выполнения работы у студентов направления 200700 формируются: - способность владеть методикой разработки математических и физических моделей исследуемых процессов, явлений и объектов, относящихся к профессиональной сфере (ПК-12); - способность применить навыки компьютерного моделирования информационных сигналов и систем, синтеза кодов, количественного анализа характеристик информационных систем, приемы практического решения задач выбора и оценки эффективности различных архитектурных и структурных решений с точки зрения производительности, надежности и стоимости вычислительных систем, приемы организации различных видов памяти, оптимизации использования ресурсов памяти вычислительных систем, практические навыки по выбору и оптимизации вычислительных ресурсов (ПК-17); - способность разрабатывать элементы и устройства фотоники и оптоинформатики на основе существующей элементной базы (ПК-20). Предназначено для студентов очной и заочной форм, обучающихся по направлениям «Электроника и наноэлектроника» и «Фотоника и оптоинформатика», по дисциплинам «Оптические методы обработки информации» и «Акустооптические методы обработки информации».