Сайты ТУСУРа

Микроволновая электроника

11.03.04 - Электроника и наноэлектроника (Квантовая и оптическая электроника) План в архиве

Очная форма обучения, план набора 2017 г.

Изучается: 6 семестр

Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)

Индекс дисциплины: Б1.В.ОД.6

Обеспечивающая кафедра: Кафедра электронных приборов

Основная литература

Электродинамика и распространение радиоволн : Учебник для вузов / Б. М. Петров. - 2-е изд., испр. . - М. : Горячая линия-Телеком, 2007. - 558[2] с
Доступно в библиотеке: 100 экземпляров

Электродинамика и распространение радиоволн [Текст] : учебное пособие / Л. А. Боков, В. А. Замотринский, А. Е. Мандель ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск : ТУСУР, 2013. - 410 с
Доступно в библиотеке: 50 экземпляров

Дополнительная литература

Электродинамика и распространение радиоволн : Учебное пособие для вузов / В. В. Никольский, Т. И. Никольская. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Наука, 1989. - 543[1] с. : ил. - Библиогр.: с. 540-543. - ISBN 5-02-014033-3
Доступно в библиотеке: 35 экземпляров

Учебно-методическое пособие


Контрольные испытания

Вид контроля Семестры
Экзамен 6

Объем дисциплины и виды учебной деятельности

Вид учебной деятельности 1 семестр 2 семестр 3 семестр 4 семестр 5 семестр 6 семестр 7 семестр 8 семестр Всего Единицы
Лекция1414часов
Практическая работа1010часов
Лабораторная работа1212часов
Всего аудиторных занятий3636часов
Самостоятельная работа3636часов
Всего (без экзамена)7272часов
Подготовка и сдача экзамена/зачета3636часов
Общая трудоемкость108108часов
33З.Е

Компетенции

Код Содержание
ПК-1 способностью строить простейшие физические и математические модели приборов, схем, устройств и установок электроники и наноэлектроники различного функционального назначения, а также использовать стандартные программные средства их компьютерного моделирования
ПК-2 способностью аргументированно выбирать и реализовывать на практике эффективную методику экспериментального исследования параметров и характеристик приборов, схем, устройств и установок электроники и наноэлектроники различного функционального назначения