11.03.04 - Электроника и наноэлектроника (Квантовая и оптическая электроника) План в архиве
Очная форма обучения, план набора 2016 г.
Изучается: 7 семестр
Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)
Индекс дисциплины: Б1.В.ДВ.9.1
Обеспечивающая кафедра: Кафедра электронных приборов
Рабочая программа
Основная литература
Гейко П.П. Прикладная нелинейная оптика: учебное пособие, Томск, ТУСУР, 2007. - 109 с
Доступно в библиотеке:
82
экземляра
Взаимодействие оптического излучения с веществом: учебное пособие / П. П. Гейко. - Томск: ТУСУР, 2007. - 151 с
Доступно в библиотеке:
88
экземпляров
Дополнительная литература
Волновая оптика: Учебное пособие для вузов / Н. И. Калитеевский. - 4-е изд., стереотип. - СПб. : Лань, 2006. - 465 с
Доступно в библиотеке:
29
экземпляров
Оптика: Учебное пособие для вузов / Г. С. Ландсберг. - М. : Физматлит, 2006. - 848 с
Доступно в библиотеке:
28
экземпляров
Ярив А., Юх П. Оптические волны в кристаллах. - М.: Мир, 1987. – 616 с
Доступно в библиотеке:
5
экземпляров
Учебно-методическое пособие
Контрольные испытания
Вид контроля | Семестры |
---|---|
Зачёт | 7 |
Объем дисциплины и виды учебной деятельности
Вид учебной деятельности | 1 семестр | 2 семестр | 3 семестр | 4 семестр | 5 семестр | 6 семестр | 7 семестр | 8 семестр | Всего | Единицы |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Лекция | 12 | 12 | часов | |||||||
Практическая работа | 16 | 16 | часов | |||||||
Лабораторная работа | 8 | 8 | часов | |||||||
Всего аудиторных занятий | 36 | 36 | часов | |||||||
Самостоятельная работа | 36 | 36 | часов | |||||||
Общая трудоемкость | 72 | 72 | часов | |||||||
2 | 2 | З.Е |
Компетенции
Код | Содержание |
---|---|
ПК-1 | способностью строить простейшие физические и математические модели приборов, схем, устройств и установок электроники и наноэлектроники различного функционального назначения, а также использовать стандартные программные средства их компьютерного моделирования |
ПК-2 | способностью аргументированно выбирать и реализовывать на практике эффективную методику экспериментального исследования параметров и характеристик приборов, схем, устройств и установок электроники и наноэлектроники различного функционального назначения |