11.04.04 - Электроника и наноэлектроника (Твердотельная электроника) План в архиве
Очная форма обучения, план набора 2018 г.
Изучается: 3 семестр
Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)
Индекс дисциплины: Б1.В.ОД.5
Обеспечивающая кафедра: Кафедра физической электроники
Рабочая программа
Основная литература
Технология, конструкции и методы моделирования кремниевых интегральных микросхем [Текст] : учебное пособие для вузов: в 2 ч. / ред. Ю. А. Чаплыгин. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012 - . - (Электроника). - ISBN 978-5-94774-538-2:
Доступно в библиотеке:
35
экземпляров
Электроника и микроэлектроника. Физико-технологические основы : Учебное пособие для вузов / А. А. Барыбин. - М. : Физматлит, 2006. - 423 с
Доступно в библиотеке:
130
экземпляров
Дополнительная литература
Технологические процессы изготовления кремниевых интегральных схем и их моделирование / М. А. Королев, Т. Ю. Крупкина, М. А. Ревелева. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010. - 397 с. : ил. - ). - Библиогр.: с. 397. - ISBN 978-5-94774-336-4
Доступно в библиотеке:
10
экземпляров
Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий : учебное пособие для вузов: в 2 т. / ред. Ю. Н. Коркишко. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - . - (Нанотехнологии) - Т. 1 : Физико-химические основы технологии микроэлектроники / Ю. Д. Чистяков, Ю. П. Райнова. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010. - 392 с
Доступно в библиотеке:
45
экземпляров
Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий [Текст] : учебное пособие для вузов: в 2 т. / ред. Ю. Н. Коркишко. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - 2011. - (Нанотехнологии). - Т. 2 : Технологические аспекты / М. В. Акуленок, В. М. Андреев, Д. Г. Громов. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011. - 252 с.
Доступно в библиотеке:
45
экземпляров
Технология кремниевой наноэлектроники: учебное пособие / Т. И. Данилина, В. А. Кагадей, Е. В. Анищенко ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - 2-е изд. - Томск : ТУСУР, 2015. - 319 с:
Доступно в библиотеке:
30
экземпляров
Учебно-методическое пособие
Контрольные испытания
| Вид контроля | Семестры |
|---|---|
| Экзамен | 3 |
Объем дисциплины и виды учебной деятельности
| Вид учебной деятельности | 1 семестр | 2 семестр | 3 семестр | 4 семестр | Всего | Единицы |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Лекция | 18 | 18 | часов | |||
| Практическая работа | 18 | 18 | часов | |||
| Лабораторная работа | 18 | 18 | часов | |||
| Всего аудиторных занятий | 54 | 54 | часов | |||
| Из них в интерактивной форме | 30 | 30 | часов | |||
| Самостоятельная работа | 54 | 54 | часов | |||
| Всего (без экзамена) | 108 | 108 | часов | |||
| Подготовка и сдача экзамена/зачета | 36 | 36 | часов | |||
| Общая трудоемкость | 144 | 144 | часов | |||
| 4 | 4 | З.Е |
Компетенции
| Код | Содержание |
|---|---|
| ПК-5 | способностью делать научно-обоснованные выводы по результатам теоретических и экспериментальных исследований, давать рекомендации по совершенствованию устройств и систем, готовить научные публикации и заявки на изобретения |
| ПК-10 | способностью разрабатывать технические задания на проектирование технологических процессов производства материалов и изделий электронной техники |
| ПК-11 | способностью проектировать технологические процессы производства материалов и изделий электронной техники с использованием автоматизированных систем технологической подготовки производства |
| ПК-12 | способностью разрабатывать технологическую документацию на проектируемые устройства, приборы и системы электронной техники |
| ПСК-2 | способностью самостоятельно разрабатывать модели наногетероструктур, активных и пассивных элементов, технологических операций изготовления гетероструктурных МИС СВЧ с использованием технологических систем моделирования и проектирования элементов и технологий полупроводниковых интегральных схем, в том числе МИС СВЧ, изготавливаемых на основе гетероструктур |