Для доступа необходимо войти в систему
12.03.03 - Фотоника и оптоинформатика (Фотоника нелинейных, волноводных и периодических структур) План в архиве
Очная форма обучения, план набора 2014 г.
Изучается: 8 семестр
Цикл дисциплины: Б2. Практики
Вид практики: Производственная практика
Индекс дисциплины: Б2.4
Обеспечивающая кафедра: Кафедра электронных приборов
Рабочая программа
Основная литература
Дополнительная литература
Малышев В.А. Основы квантовой электроники и лазерной техники : Учебное пособие для вузов / В. А. Малышев. - М. : Высшая школа, 2005. - 542[2] с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 536-539. - ISBN 5-06-004853-5. УДК 621.373.8(075.8)
Доступно в библиотеке:
38
экземпляров
Учебно-методическое пособие
Введение в квантовую и оптическую электронику : учебное пособие / С. М. Шандаров, А. И. Башкиров ; Федеральное агентство по образованию, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск : ТУСУР, 2007. - 93[1] с. : ил. - (Приоритетные национальные проекты. Образование). - Библиогр.: с. 92-93. - ISBN 978-5-86889-408-4 : 202.54 р.
Доступно в библиотеке:
80
экземпляров
Контрольные испытания
| Вид контроля | Семестры |
|---|---|
| Зачёт с оценкой | 8 |
Объем дисциплины и виды учебной деятельности
| Вид учебной деятельности | 1 семестр | 2 семестр | 3 семестр | 4 семестр | 5 семестр | 6 семестр | 7 семестр | 8 семестр | Всего | Единицы |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Общая трудоемкость | 216 | 216 | часов | |||||||
| 6 | 6 | З.Е | ||||||||
| 4 | 4 | недель |
Компетенции
| Код | Содержание |
|---|---|
| ОПК-4 | способностью учитывать современные тенденции развития техники и технологий в своей профессиональной деятельности |
| ПК-3 | способностью к проведению измерений и исследования различных объектов по заданной методике |
| ПК-4 | способностью к наладке, настройке, юстировке и опытной проверке приборов и систем |
| ПК-6 | способностью к оценке технологичности и технологическому контролю простых и средней сложности конструкторских решений, разработке типовых процессов контроля параметров механических, оптических и оптико-электронных деталей и узлов |