28.03.01 - Нанотехнологии и микросистемная техника (Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике) План в архиве
Очная форма обучения, план набора 2014 г.
Изучается: 5 семестр
Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)
Индекс дисциплины: Б1.В.ОД.3
Обеспечивающая кафедра: Кафедра физической электроники
Рабочая программа
Основная литература
Дополнительная литература
1. Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов: Учебник для вузов / Ю. М. Таиров, В. Ф. Цветков. – 3-е изд., стереотип. – СПб.: Лань, 2002. – 424 с
Доступно в библиотеке:
212
экземпляров
Учебно-методическое пособие
Контрольные испытания
| Вид контроля | Семестры |
|---|---|
| Зачёт с оценкой | 5 |
Объем дисциплины и виды учебной деятельности
| Вид учебной деятельности | 1 семестр | 2 семестр | 3 семестр | 4 семестр | 5 семестр | 6 семестр | 7 семестр | 8 семестр | Всего | Единицы |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Лекция | 36 | 36 | часов | |||||||
| Практическая работа | 18 | 18 | часов | |||||||
| Всего аудиторных занятий | 54 | 54 | часов | |||||||
| Из них в интерактивной форме | 8 | 8 | часов | |||||||
| Самостоятельная работа | 54 | 54 | часов | |||||||
| Общая трудоемкость | 108 | 108 | часов | |||||||
| 3 | 3 | З.Е |
Компетенции
| Код | Содержание |
|---|---|
| ПК-8 | готовностью использовать базовые технологические процессы и оборудование, применяемые в производстве материалов, компонентов нано- и микросистемной техники |
| ПК-9 | готовностью использовать базовое контрольно-измерительное оборудование для метрологического обеспечения исследований и промышленного производства материалов и компонентов нано- и микросистемной техники |