Патентование научно-технических разработок

11.04.04 - Электроника и наноэлектроника (Электронные приборы и устройства сбора, обработки и отображения информации) План в архиве

Очная форма обучения, план набора 2015 г.

Изучается: 1 семестр

Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)

Индекс дисциплины: Б1.Б.4

Обеспечивающая кафедра: Кафедра промышленной электроники

Основная литература

Сычёв А. Н. Защита прав интеллектуальной собственности: учеб. пособие / А. Н. Сычёв. - Томск: ТУ СУР. 2014. - 240 с.
Доступно в библиотеке: 40 экземпляров

Дополнительная литература

Семенова Г. Д. Интеллектуальная собственность: учеб. пособие. - Томск: Томский межвузовский центр дистанционного образования. 2002. - 151 с.
Доступно в библиотеке: 135 экземпляров

Учебно-методическое пособие

Семенова Г. Д. Основы патентоведения: руководство к организации самостоятельной работы. - Томск: Томск, гос. ун-т систем упр. и радиоэлектроники,- 2007.- 120 с.
Доступно в библиотеке: 190 экземпляров

Контрольные испытания

Вид контроля Семестры
Зачёт 1

Объем дисциплины и виды учебной деятельности

Вид учебной деятельности 1 семестр 2 семестр 3 семестр 4 семестр Всего Единицы
Лекция1818часов
Практическая работа1818часов
Всего аудиторных занятий3636часов
Из них в интерактивной форме1414часов
Самостоятельная работа3636часов
Общая трудоемкость7272часов
22З.Е

Компетенции

Код Содержание
ОК-1 способностью использовать иностранный язык в профессиональной сфере
ОПК-1 способностью понимать основные проблемы в своей предметной области, выбирать методы и средства их решения
ОПК-4 способностью самостоятельно приобретать и использовать в практической деятельности новые знания и умения в своей предметной области
ОПК-5 готовностью оформлять, представлять, докладывать и аргументированно защищать результаты выполненной работы
ПК-5 способностью делать научно-обоснованные выводы по результатам теоретических и экспериментальных исследований, давать рекомендации по совершенствованию устройств и систем, готовить научные публикации и заявки на изобретения
ПК-6 способностью анализировать состояние научно-технической проблемы путем подбора, изучения и анализа литературных и патентных источников