Научно-исследовательская работа (рассред.)

11.03.04 - Электроника и наноэлектроника (Промышленная электроника)

Заочная форма обучения, план набора 2018 г.

Изучается: 9, 10 семестр

Цикл дисциплины: Б2. Практики

Вид практики: Производственная практика

Индекс дисциплины: Б2.2

Обеспечивающая кафедра: Кафедра промышленной электроники

Основная литература

Решетникова Г. Н. Моделирование систем: Учебное пособие. - Томск : ТУСУР, 2007. - 440 с. (70 шт.)
Доступно в библиотеке: 70 экземпляров

Дополнительная литература

Руководство по методам вычислений и приложения MATHCAD : Учебное пособие для вузов / В. И. Ракитин. - М. : Физматлит, 2005. – 263 с. (20 шт.)
Доступно в библиотеке: 20 экземпляров
Сычев А.Н. Защита интеллектуальной собственности и патентоведение [Текст] : учебное пособие. Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск : Эль Контент, 2012. - 160 c.
Доступно в библиотеке: 51 экземпляр

Учебно-методическое пособие


Контрольные испытания

Вид контроля Семестры
Дифференцированный зачет 10

Объем дисциплины и виды учебной деятельности

Вид учебной деятельности 1 семестр 2 семестр 3 семестр 4 семестр 5 семестр 6 семестр 7 семестр 8 семестр 9 семестр 10 семестр Всего Единицы
Контактная работа448часов
Иные формы работ104104208часов
Общая трудоемкость108108216часов
6З.Е
224недель

Компетенции

Код Содержание
ПК-1 способностью строить простейшие физические и математические модели приборов, схем, устройств и установок электроники и наноэлектроники различного функционального назначения, а также использовать стандартные программные средства их компьютерного моделирования
ПК-2 способностью аргументированно выбирать и реализовывать на практике эффективную методику экспериментального исследования параметров и характеристик приборов, схем, устройств и установок электроники и наноэлектроники различного функционального назначения
ПК-3 готовностью анализировать и систематизировать результаты исследований, представлять материалы в виде научных отчетов, публикаций, презентаций
ПСК-1 способностью проводить анализ, оценку научно-технической информации, патентные исследования и защиту объектов интеллектуальной собственности