Устройство для контроля толщины изоляции микропровода

патент на изобретение

Правообладатель: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники»

Номер и дата приоритета: № 2017114319, 24 апреля 2017

Номер патента/свидетельства и дата регистрации: 2662249, 27 июля 2018

Автор:  Смирнов Г. В.