Ускоренные испытания полупроводниковых источников света на долговечность

Статья в журнале

Приводятся результаты ускоренных испытаний полупроводниковых светодиодов (СД) белого цвета в пластмассовом корпусе типа 5050 на долговечность. Определена энергия активации доминирующего процесса деградации и температура кристалла СД в процессе испытаний.

Журнал:

  • Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники
  • Издательство: Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (г. Томск) (Томск)

Библиографическая запись: Гончарова Ю. С. Ускоренные испытания полупроводниковых источников света на долговечность / Ю. С. Гончарова, И. Ф. Гарипов, В. С. Солдаткин // Доклады ТУСУР. – 2013. – № 2(28). – С. 51–53.

Индексируется в:

Год издания:  2013
Страницы:  51 - 53
Язык:  Русский
DOI:  -