Сайты ТУСУРа

Использование ROBDD-графов для тестирования задержек логических схем

Статья в журнале

С увеличением быстродействия интегральных схем и ростом уровня их интеграции возможно возникновение непредусмотренных емкостей, индуктивностей и т.д., приводящих к снижению расчетного быстродействия схемы. Эти дефекты не удается купировать физическими методами. Одним из основных средств анализа таких ситуаций является тестирование схем в рамках логических моделей неисправностей задержек путей. В данной работе исследуются возможности улучшения качества тестовых последовательностей, обнаруживающих неисправности задержек путей, связанные с использованием ROBDD(Reduced Ordered Binary Decision Diagrams)- графов, компактно представляющих все пары тестовых наборов для пути в схеме. Речь идет о парах соседних булевых векторов, отличающихся значением одной компоненты. Устанавливается, что использование таких ROBDD-графов позволяет существенно (более чем на 1/3) сокращать длину тестовой последовательности по сравнению с традиционными методами сканирования (ориентированными на эвристические подходы к получению тестовых пар) при одновременном улучшении качества тестирования. Под качеством тестирование здесь понимается обнаружение задержки каждого робастно тестируемого пути (полнота тестовой последовательности), снижение потребляемой при тестировании мощности и снижение пиковой потребляемой мощности для смежных наборов тестовой последовательности. Потребляемая мощность оценивается общим числом смен значений сигналов в пределах тестовой последовательности.

Журнал:

  • Известия вузов. Физика
  • Сибирский Физико-Технический Институт (Томск)

Библиографическая запись: Использование ROBDD-графов для тестирования задержек логических схем: [Электронный ресурс] / А. Ю. Матросова [и др.] // Известия вузов. Физика. – 2019. – Т. 62. – №5. – С. 86-94. – DOI: 10.17223/00213411/62/5/86

Индексируется в:

Год издания:  2019
Страницы:  86 - 94
Язык:  Русский
DOI:  10.17223/00213411/62/5/86