Метрология и технические измерения

28.03.01 - Нанотехнологии и микросистемная техника (Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике)

Очная форма обучения, план набора 2016 г.

Изучается: 5 семестр

Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)

Индекс дисциплины: Б1.Б.19

Обеспечивающая кафедра: Кафедра компьютерных систем в управлении и проектировании

Основная литература

Технические Измерения и приборы: В.Ю. Шишмарев. 2010 г.
Доступно в библиотеке: 11 экземпляров

Дополнительная литература

Измерительная техника и датчики. Эрастов В.Е. Сидоров Ю.К. Отчалко В.Ф.
Доступно в библиотеке: 69 экземпляров

Учебно-методическое пособие

Метрология, Стандартизация и сертификация: Отчалко В.Ф.
Доступно в библиотеке: 12 экземпляров

Контрольные испытания

Вид контроля Семестры
Экзамен 5

Объем дисциплины и виды учебной деятельности

Вид учебной деятельности 1 семестр 2 семестр 3 семестр 4 семестр 5 семестр 6 семестр 7 семестр 8 семестр Всего Единицы
Лекция2626часов
Практическая работа1818часов
Лабораторная работа1616часов
Всего аудиторных занятий6060часов
Из них в интерактивной форме1212часов
Самостоятельная работа4848часов
Всего (без экзамена)108108часов
Подготовка и сдача экзамена/зачета3636часов
Общая трудоемкость144144часов
44З.Е

Компетенции

Код Содержание
ОПК-5 способностью использовать основные приемы обработки и представления экспериментальных данных
ОПК-7 способностью учитывать современные тенденции развития электроники, измерительной и вычислительной техники, информационных технологий в своей профессиональной деятельности